清华大学材料学院XRD2011考研真题回忆版

点赞(0) 反对(0) 本站小编 福瑞考研网 2017-01-10 18:50:01 阅读(0)

2011清华大学材料学院复试XRD回忆版

1、劳埃法测单晶取向的原理,并用图说明劳埃斑与对应晶面极点在底片上的相对位置。

2、测衍射线强度时各种误差的来源(德拜法和衍射仪法),以及外推法减小误差的原理。

3、宏观应力的大小和方向,以及微观应力是如何影响衍射峰和线位的,详细分析。

4、什么是织构?正极图、反极图、三维取向分布函数的意义。作出具有(001)<100>板织构的{110}极图。

5、给出一个表格,面间距d与对应强度I,根据此表格推断晶体类型及点阵参数。(取8个较强峰的d值求比值)

6、详细分析微晶尺寸是如何影响衍射峰线位的。给出一个2θ-I图,图中有两个衍射峰,分别来自单晶基底和试样,试求晶格参数。

7、现有①50%铜和50%镍的混合物 ②50%铜+50%镍的固溶体(可以无限混溶),问两者的德拜照片有何异同。(注意第二种情况,分有序和无序两种情况讨论)

8、已知某材料,经测试,马氏体与残余奥氏体的强度比(具体多少不记得),以及K值已知,且材料含碳量5%,求残余奥氏体的含量。

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