导师姓名：汉晶
性别：女
人气指数：29

所属院校：北京工业大学
所属院系：材料学院
职称：
导师类型：硕导
招生专业：材料科学与工程
研究领域： 先进电子封装材料与技术；互连焊点可靠性；焊点界面反应
研究领域： 先进电子封装材料与技术；互连焊点可靠性；焊点界面反应 [收起]




通讯方式 :
办公电话：**
电子邮件：hanjing@bjut.edu.cn


个人简述 :
于2013年8月起，受聘于北京工业大学材料学院。先后主持国家自然科学基金青年基金、北京市自然科学基金面上项目和北京市教委科技计划等纵向项目。

科研工作 :
Most Recent Publications:(1) J. Han*, F. Guo, J.P. Liu, Early Stages of Localized Recrystallization in Pb–Free BGA Solder Joints Subjected to Thermomechanical Stress, J. Alloys Compd. 704 (2017) 574–584.(2) J. Han*, F. Guo, J.P. Liu, Recrystallization Induced by Subgrain Rotation in Pb–free BGA Solder Joints Under Thermomechanical Stress, J. Alloys Compd. 698 (2017) 706–713.(3) J. Han*, F. Guo, J.P. Liu, Effects of Anisotropy of Tin on Grain Orientation Evolution in Pb–free Solder Joints Under Thermomechanical Stress, J. Mater. Sci. Mater. Electron. (2017). doi:10.1007/s10854-017-6347-2.(4) J. Han*, S.H. Tan, F. Guo, Study on Subgrain Rotation Behavior at Different Interfaces of a Solder Joint during Thermal Shock, J. Electron. Mater. 45 (2016) 6086–6094.(5) S.H. Tan, J. Han*, F. Guo, Subgrain Rotation at Twin Grain Boundaries of a Lead–Free Solder Joint during Thermal Shock, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 27 (2016) 9642–9649.(6) Y. Wang, J. Han, L. M. Ma, Y. Zuo, F. Guo*, Electromigration Behaviors of Cu Reinforced Sn–3.5Ag Composite Solder Joints, J. Electron. Mater. 45 (2016) 6095–6101.(7) P.H. Gu, J. Han, F. Guo*, Effects of Nano-Structured Reinforcements on the Recrystallization and Damage Mode of Sn–3.0Ag–0.5Cu Solder Joints, 17th International Conference on Electronic Packaging Technology, Aug. 2016.

教育背景 :
2002/09-2006/07，就读于哈尔滨工业大学，焊接技术与工程系，获工学学士；2006/09-2008/07，就读于哈尔滨工业大学，深圳研究生院，获工学硕士；2008/09-2013/01，就读于哈尔滨工业大学，深圳研究生院，获工学博士。