姓名（中文/汉语拼音）黄干云

职称研究员、博导

职务

专业固体力学

所在系、所力学系

通讯地址天大机械工程学院,300072

电子信箱gyhuang@tju.edu.cn

办公室电话

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主要学历:

1998.9-2003.9 北方（京）交通大学工程力学研究所读研究生

1994.8-1998.7 中南（工业）大学城市地下建筑专业读本科

主要学术经历:

2008.4-2009.8 德国多特蒙德大学力学所洪堡访问学者

2006.3-2008.1 澳大利亚悉尼大学先进材料技术中心做访问学者（博士后）

2003.10-2006.1 清华大学工程力学系做博士后研究

主要研究方向:

微纳尺度材料力学行为模拟

接触、摩擦与损伤破坏

主要讲授课程:

研究生课程连续介质力学与塑性

本科课程的断裂力学部分

主要学术成就、奖励及荣誉:

2007.11 获洪堡研究奖金

2009.1获教育部自然科学二等奖（第二完成人）

2010.1入选教育部新世纪优秀人才计划

主要科研项目及角色:

考虑表/界面能影响的连续介质位错理论塑性模型研究，新世纪优秀人才计划

非均匀材料的粘着接触及污损生物附着机制初探，国家自然科学基金

大型掘进装备中的关键力学问题，天津大学自主创新项目

代表性论著:

1. Huang GY, Wang YS, Gross, D (2002): Transient dislocation emission from a crack tip under dynamic mode II loading. Zeitschrift für angewandte Math. Physik, 53, 839-854.

2. Huang GY, Wang YS, Gross D (2003): Fracture analysis of functionally graded coatings: plane deformation. Euro. J. Mech. A-Solids 22, 535-544.

3. Huang GY, Wang YS (2004): A new model for fracture analysis of a functionally graded interfacial zone under harmonic anti-plane loading. Eng. Fract. Mech. 71, 1841-1851.

4. Huang GY, Yu SW (2006): Effect of surface piezoelectricity on the electromechanical behavior of a piezoelectric ring. Phys. Stat. Solid (b). 243: R22-R24.

5. Huang GY, Gao W, Yu SW (2006): Model for the adsorption-induced change in resonance frequency of a cantilever. Appl. Phys. Lett. 89: 043506.

6. Huang GY, Mai Y-W, Ru CQ(2008): Surface deflection of a microtubule loaded by a concentrated radial force. Nanotechnology. 19: 125101.

7. Huang GY, Mai Y-W (2008): Sticky chain model for shear response of red blood cells. J. Biomech. 41: 2349-2352.

8. Huang GY, Wang BL, Mai Y-W (2009): Effective properties of magnetoelectroelastic materials with aligned ellipsoidal voids. Mech. Res. Com. 36: 563-572

9. Huang GY, Svendsen B (2010): Effect of surface energy on the plastic behavior of crystalline thin films under plane constrained shear. Int. J. Fract. 166: 178-183

10. Huang GY, Kang YL (2011): Acoustic vibrations of a circular nanowire by considering the effect of surface. J. Appl. Phys. 110: 023526